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扒一扒半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)@V訟那些事兒

OFweek電子工程網(wǎng)訊 在技術(shù)高度密集的半導(dǎo)體工業(yè),幾乎每天都有訴訟故事在上演。有這樣一組統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù):從2010到2015與集成電路/半導(dǎo)體相關(guān)的訴訟活動(dòng)數(shù),包括尚未結(jié)案的NPE訴訟活動(dòng),事實(shí)上在集成電路產(chǎn)業(yè),其訴訟活動(dòng)數(shù)以每年+38%之年復(fù)合成長(zhǎng)率呈現(xiàn)長(zhǎng)期攀升的趨勢(shì)。訴訟已經(jīng)儼然成為大公司打壓競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的一種商業(yè)策略。

為什么半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)@V訟尤其多?如何從專利訴訟糾紛中脫身?今天我們借助智慧芽全球?qū)@麛?shù)據(jù)庫(kù)和分析系統(tǒng),跟大家一起扒一扒半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)@V訟那些事兒。

半導(dǎo)體行業(yè)專利訴訟為何這么多?

1)半導(dǎo)體行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈關(guān)系復(fù)雜
半導(dǎo)體行業(yè)的上下游關(guān)系復(fù)雜,研發(fā)成果的表現(xiàn)形式也是多樣的,它涉及到工藝制備方法,還包括到各產(chǎn)品本身,如何利用多種形式的知識(shí)產(chǎn)權(quán)來(lái)保護(hù)研發(fā)成果,這對(duì)企業(yè)研發(fā)和IPR來(lái)說(shuō)都是一個(gè)挑戰(zhàn)。其中,專利作為研發(fā)成果的重要保護(hù)形式之一,幫助企業(yè)構(gòu)建自身技術(shù)壁壘。在整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)中,各類不同企業(yè)紛紛利用專利武器,跑馬圈地形成保護(hù)屏障,從而展現(xiàn)競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)同時(shí)在市場(chǎng)中獲利。


數(shù)據(jù)顯示,在過(guò)去10年,全球半導(dǎo)體領(lǐng)域的專利授權(quán)數(shù)量呈現(xiàn)超過(guò)50%的增長(zhǎng)幅度。且半導(dǎo)體行業(yè)高度集中,市場(chǎng)相對(duì)壟斷,客戶、供應(yīng)商、加工商交叉著的情況下,專利訴訟糾紛發(fā)生的概率較高。


且在半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)@V訟呈現(xiàn)訴訟金額高、技術(shù)難度高、周期較長(zhǎng)、影響面大等特征,一般會(huì)有技術(shù)鑒定或?qū)<艺撟C,把控手段多。

2)亦正亦邪的NPE緊盯半導(dǎo)體領(lǐng)域
主要營(yíng)收來(lái)自于專利許可或訴訟的NPE們深耕半導(dǎo)體領(lǐng)域。法國(guó)專利與技術(shù)分析公司KnowMade Co.日前做了分析,自從2013年以來(lái),NPE們已經(jīng)買(mǎi)下超過(guò)2880個(gè)與半導(dǎo)體有關(guān)的美國(guó)專利了,威脅從整合組件制造商(IDM)到半導(dǎo)體委外封裝與測(cè)試供貨商(OSAT)的整個(gè)半導(dǎo)體供應(yīng)鏈。尤其一些國(guó)外NPE巨頭甚至專利流氓將視線鎖定國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體企業(yè),發(fā)起的專利訴訟案例層出不窮。

KnowMade 專利訴訟風(fēng)險(xiǎn)分析

面臨海外巨頭專利控訴,國(guó)內(nèi)企業(yè)如何化解危機(jī)?

利益先得者“以大欺小”,故意在知識(shí)產(chǎn)權(quán)問(wèn)題上“找茬”的情況很常見(jiàn),在半導(dǎo)體行業(yè)這種現(xiàn)象十分普遍。面對(duì)海外巨頭的控訴,國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體企業(yè)往往處于弱勢(shì)地位。

也有一些成功的案例,例如行業(yè)“后來(lái)者”——中微半導(dǎo)體設(shè)備(上海)有限公司就是個(gè)行業(yè)佳話,應(yīng)對(duì)美國(guó)行業(yè)巨頭5年侵犯商業(yè)秘密和專利權(quán)纏訴,終獲“一撤訴四連勝”,成功化解危機(jī)。分析中微半導(dǎo)體在應(yīng)對(duì)訴訟中的表現(xiàn),以下幾點(diǎn)很值得同行們借鑒:

1)未雨綢繆,專業(yè)IP團(tuán)隊(duì)早早排查潛在風(fēng)險(xiǎn)

中微半導(dǎo)體在成立初期,就組建了專門(mén)的IP團(tuán)隊(duì),在產(chǎn)品前期研發(fā)時(shí)就對(duì)潛在專利糾紛可能性做大量分析排查,確保每一步研發(fā)進(jìn)展不會(huì)踩上專利“地雷”。

2)見(jiàn)招拆招,積極尋找無(wú)效對(duì)手專利的證據(jù)

2009年美國(guó)巨頭科林研發(fā)在臺(tái)灣起訴中微半導(dǎo)體侵犯其發(fā)明專利,中微積極主動(dòng)應(yīng)對(duì),以事實(shí)回應(yīng)其指控并指出所提出的被侵權(quán)的專利根本就是無(wú)效的專利。最終判定該專利由于缺乏新穎性和創(chuàng)造性而無(wú)效,無(wú)法構(gòu)成指控中微侵權(quán)的依據(jù)。


在實(shí)際操作過(guò)程中,像中微一樣面臨海外巨頭起訴能夠全身而退確實(shí)不是一件容易的事,完善的IP人員隊(duì)伍和體系化的專利管理對(duì)于一些小企業(yè)來(lái)說(shuō)負(fù)擔(dān)太重,其實(shí)可以選擇一些便利實(shí)用的工具來(lái)實(shí)現(xiàn)專利預(yù)警。

智慧芽團(tuán)隊(duì)一直在探索如何幫助企業(yè)在研發(fā)過(guò)程中快速搜集專利情報(bào),避開(kāi)專利“雷區(qū)”,為技術(shù)研發(fā)指明方向。以下幾點(diǎn)實(shí)用的小技巧大家不妨實(shí)踐下:

1)利用“關(guān)鍵詞助手”防漏檢,全面排查潛在專利風(fēng)險(xiǎn)

半導(dǎo)體領(lǐng)域上下游關(guān)系復(fù)雜,很多企業(yè)在立項(xiàng)時(shí)進(jìn)行專利檢索不全面,“漏檢少檢”的情況時(shí)有發(fā)生,直接影響著最終專利信息分析的結(jié)果,也為后續(xù)研發(fā)過(guò)程帶來(lái)了不必要的風(fēng)險(xiǎn)甚至極大危害。

以常見(jiàn)檢索詞“襯底”為例,需要注意上位和下位的概念擴(kuò)展,例如上位概念“有源”、“源漏”出現(xiàn)在一些重要專利文獻(xiàn)中,可能就會(huì)被漏檢。此外,在檢索過(guò)程需要搜集它的同義詞、替代詞、英文翻譯等,通常我們會(huì)擴(kuò)展的關(guān)鍵詞有“襯底 or Substrate or 基板”,但在一些重點(diǎn)技術(shù)方案中我們發(fā)現(xiàn)如“基片”之類的詞匯屢屢出現(xiàn),作為檢索關(guān)鍵詞很容易被忽視。

借助智慧芽專利數(shù)據(jù)庫(kù)的高級(jí)檢索選項(xiàng)中的“關(guān)鍵詞助手”功能,可以幫助解決這一煩惱:輸入“襯底”,系統(tǒng)通過(guò)大數(shù)據(jù)分析自動(dòng)擴(kuò)展檢索關(guān)鍵詞,包括近似字段及上下位關(guān)鍵詞皆有呈現(xiàn),檢索人員還可將匹配項(xiàng)和排除項(xiàng)進(jìn)行顏色區(qū)分,以便對(duì)選擇的標(biāo)簽進(jìn)行再次篩選。


2)結(jié)合IPC分類和被引用信息,提早研究對(duì)手專利布局

所謂知己知彼,百戰(zhàn)不殆。當(dāng)難以避免與對(duì)手進(jìn)行交戰(zhàn)時(shí),詳細(xì)掌握對(duì)方的專利布局情報(bào)幫助在訴訟糾紛中搶占上風(fēng)提供線索。

除了常規(guī)的市場(chǎng)調(diào)研和技術(shù)研發(fā)分析外,也可以借助專利數(shù)據(jù)庫(kù)中的IPC分類號(hào),查看對(duì)手的核心技術(shù)分布;同時(shí)通過(guò)分析企業(yè)被引用次數(shù)最多的專利,這些專利體現(xiàn)了對(duì)手最核心最關(guān)鍵的技術(shù)。

例如下圖臺(tái)積電的IPC分類詳情,及被引用次數(shù)最多的專利信息:


3)巧用引用分析,找到對(duì)手的專利無(wú)效破綻

找到對(duì)方漏洞,找出專利無(wú)效證據(jù)給了訴訟對(duì)方致命一擊。智慧芽專利數(shù)據(jù)庫(kù)中有一項(xiàng)功能,可以幫助企業(yè)更高效便捷找到對(duì)手的專利無(wú)效證據(jù),這便是被行業(yè)研發(fā)和IP人頻繁點(diǎn)贊的“查看引用信息”功能。

數(shù)據(jù)庫(kù)中可快速查詢對(duì)手已有專利的引用文獻(xiàn),包括了撰寫(xiě)交底書(shū)時(shí)的備注文獻(xiàn)以及審查員批注的參考文獻(xiàn)。同時(shí),還可通過(guò)無(wú)限延展檢索,一級(jí)引用找不到,可以找二級(jí)引用、三級(jí)引用,提供目標(biāo)公司每一條專利的引用和被引用的完整記錄,最終幫助找到無(wú)效的證據(jù)。



來(lái)源:智慧芽全球?qū)@麛?shù)據(jù)庫(kù) – 查看專利引用信息

文中提及的用“關(guān)鍵詞助手”防漏檢、看IPC分類和被引用次數(shù)研究對(duì)手專利布局、以及從引用信息無(wú)效對(duì)手專利等功能,皆來(lái)自智慧芽全球?qū)@麛?shù)據(jù)庫(kù)。
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